Das Wissen über die Beschaffenheit von Materialien ist für viele Fragen in der Grundlagenforschung ganz entscheidend. Seit 2007 sorgt ein besonderes Transmissions-Elektronenmikroskop (TEM) in diesem Bereich für Fortschritte: das sogenannte CRISP-System (Corrected Illumination Scanning Probe), das Forscher des Unternehmens Carl Zeiss entwickelt haben. Es nutzt neueste Technologien in der Bildgewinnung mit Elektronen und ermöglicht damit detaillierte Einblicke in die innersten Eigenschaften von Materialien – bis hin zur atomaren Ebene. Dabei wird eine Elektronensonde über das zu untersuchende Objekt geführt, durch die ein Abbild der Probe rasterförmig aufgebaut wird. Durch einen Korrektor im Beleuchtungssystem verbessert sich hierbei die Auflösung und es können beispielsweise Atome mit Abständen von weniger als einem Zehnmillionstel Millimeter abgebildet werden. Damit lassen sich molekulare Strukturen und somit der Aufbau eines Materials räumlich untersuchen. Mithilfe eines sogenannten Monochromators können zudem Bildfehler reduziert werden, und die Auflösung verbessert sich. Mit diesen und weiteren technologischen Finessen erlaubt CRISP es Wissenschaftlern, die Beschaffenheit von Materialien besser zu verstehen, sie gezielt zu optimieren – und so auch bessere Werkstoffe zu entwickeln.
Neueste Technologien in der Bildgewinnung: CRISP
Nach Angaben von Carl Zeiss ist CRISP das einzige TEM der Welt mit der Fähigkeit, auf atomarer Ebene abzubilden. 2007 wurde es am Bonner Forschungszentrum Caesar (Center of Advanced European Studies and Research) installiert.
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